如何進(jìn)行控制電纜絕緣強(qiáng)度試驗
控制電纜絕緣電阻的測試： 絕緣電阻式反映電線電纜產(chǎn)品絕緣特性的重要指標(biāo)，它與該產(chǎn)品的耐電強(qiáng)度，介質(zhì)損耗，以及絕緣材料在工作狀態(tài)下的逐漸劣化等均有密切的關(guān)系。對于通信電纜，線間絕緣電阻過低還會增大回路衰減、回路間的串音及在導(dǎo)電線芯上進(jìn)行遠(yuǎn)距離供電泄露等，因此都要求絕緣電阻應(yīng)高于規(guī)定值。測定絕緣電阻可以發(fā)現(xiàn)工藝中的缺陷，如絕緣干燥不透或護(hù)套損傷受潮；絕緣受到污染和有導(dǎo)電雜質(zhì)混入；各種原因引起的絕緣層開裂等。在電線、電纜的運(yùn)行中，經(jīng)常要檢測絕緣電阻和泄漏電流，以此作為是否能夠繼續(xù)安全運(yùn)行的主要依據(jù)。
目前電線電纜絕緣電阻的測量，除了用歐姆計（搖表）外，常用的有檢流計比較法高阻計法（電壓——電流法）。電容及損耗因數(shù)的測量： 電纜加上交流電壓，就有電流流過，當(dāng)電壓的幅值和頻率一定時，電容電流的大小是正比于電纜的電容（Cx）。對于超高壓電纜，這種電容的電流可能達(dá)到與額定電流可以相比的數(shù)值，成為限制電纜容量和傳輸距離的重要因素。因此電纜的電容也是電纜的主要的電性能參數(shù)之一。
在交流電場中，電纜中的絕緣體由于泄露電流和各種極化存在，會形成介質(zhì)損耗，以介質(zhì)損耗因數(shù)或損耗角正切值（TANδ）來表示，它不但浪費電能，而且會使介質(zhì)（絕緣體）發(fā)熱，加速絕緣老化，因此TANδ也是電纜主要參數(shù)之一。通過電容和損耗因數(shù)的測量可以發(fā)現(xiàn)絕緣受潮，絕緣層和屏蔽層脫落等各種絕緣劣化現(xiàn)象，因此無論在電纜制造或電纜運(yùn)行中都有進(jìn)行電容和TANδ的測量。對高壓電纜，Cx和TANδ的測量都在其工作條件下，即工頻高壓下進(jìn)行的，通常使用的都是高壓西林電橋，今年來也有開始使用電流比變壓器電橋。
控制電纜絕緣強(qiáng)度試驗： 電線電纜的絕緣強(qiáng)度是指絕緣結(jié)構(gòu)和絕緣材料承受電場作用而不發(fā)生擊穿破壞的能力，為了檢查電線電纜產(chǎn)品質(zhì)量，保證產(chǎn)品能安全運(yùn)行，所有絕緣類型的電線電纜一般都要進(jìn)行絕緣強(qiáng)度試驗。
絕緣強(qiáng)度試驗可分為耐壓試驗和擊穿試驗。耐電壓實驗是在一定條件下對試品施加一定的電壓，在經(jīng)歷一定時間后，以是否發(fā)生擊穿作為判斷試品是否合格的標(biāo)準(zhǔn)。時間的電壓一般高于該試品的額定工作電壓，具體電壓值和耐壓時間，產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中均有規(guī)定，通過耐壓試驗可以考驗產(chǎn)品在工作電壓下運(yùn)行的可靠性和發(fā)現(xiàn)絕緣中的嚴(yán)重缺陷，也可發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)工藝的一些缺點，如：絕緣有嚴(yán)重外部損傷，導(dǎo)體上有使電場急劇畸變的嚴(yán)重缺陷；絕緣在生產(chǎn)中有穿透性缺陷或大的導(dǎo)電雜質(zhì)等。擊穿試驗是在一定的試驗條件下，升高電壓直到試品發(fā)生擊穿為止，測量擊穿場強(qiáng)或擊穿電壓。
